高光谱成像仪有几种扫描方式？各自有什么特点？

高光谱成像仪所对应的系统瞬时视场通常为毫弧度量级，而仪器的总视场往往要求几度甚至几十度，为了扩大视场，需要实行扫描成像，通过扫描建立三维“数据立方”。目前，高光谱成像仪的描方式主要有：扫摆式、推扫式、画幅式及快照式等。本文对此作了详细的介绍，感兴趣的朋友可以了解一下！

扫摆式扫描：

扫摆式扫描主要是对单点进行光谱测量，然后通过二维扫描获取完整的二维空间信息与一维光谱信息，其扫描方式如下图所示。

推扫式扫描：

推扫式扫描是对一维单线（垂直轨道方向）进行光谱测量，然后另一维扫描（即沿轨方向）获取完整的二维空间信息，其扫描方式如下图所示。

画幅式扫描：

画幅式是同时对二维视场进行探测，不用通过光机扫描。探测器采用二维面阵探测器，探测靶与二维视场一致。整个系统的机构简单，体积减小、功耗降低，改善了扫描方式，使得系统不被扫描速度限制，只受探测器时间常数的影响，另外对目标辐射探测的相应灵敏度也有相应提高。其扫描方式如下图所示。

窗口式扫描：

与之相似的还有一种扫描方式是窗口式扫描，下图窗口式扫描的信息获取过程。画幅式完全不需要扫描，每次探测皆为同一目标位置的准单色图谱信息，后期处理较为简单；而窗口式则需要扫描，每次获取的是目标的不同位置的不同谱段信息，后期需要较为复杂的图像重构过程。

快照式扫描：

快照式扫描作为一个新型的图像信息获取方式，其三维数据立方的建立无需进行扫描。主要通过3种形式获得：一种是视场分割技术；二是计算层析的方式；三种是孔径编码技术。其扫描方式如下图所示。