高光谱成像仪性能评价指标有哪些？

高光谱成像仪不仅具有一般成像系统所适用的评价指标，同时还具有光谱系统所特有的评价指标，如工作光谱范围、光谱分辨率、谱线弯曲和色畸变等，这些评价指标决定着光谱仪的应用范围和仪器性能。本文对高光谱成像仪的性能指标做了介绍。

工作光谱范围：

工作光谱范围是指高光谱成像光谱仪能够在该谱段内实现理想成像的范围，通常由光学系统和探测器的光谱响应波段决定，在进行光谱仪光学设计时，应在该工作光谱范围达到理想的成像质量，如采用透射式前置望远物镜时，应考虑在该工作光谱范围内实现消色差和二级光谱。

光谱分辨率：

光谱分辨率是指探测器在波长色散的方向，光谱仪器达到光谱响应峰值的半时，这两个波长之间的波长宽度。通常也定义为光谱仪单个光谱通道的波长宽度，在工作光谱范围内，光谱通道数越多，表示光谱分辨率越高。该指标表示光谱仪对光谱的精细分辨能力，光谱分辨率越高，对地物的精细识别和分类能力就越强。但光谱分辨率的一味提高，意味着单个光谱通道内探测器所接收的能量就越小，造成信噪比的降低，因此需要合理确定光谱仪的光谱分辨率。

谱线弯曲/色畸变：

入射光通过狭缝后的狭缝像经过光栅分光到达探测器像面时，形成的单色像会产生谱线弯曲（Smile）和色畸变（Keystone）。谱线弯曲为探测器接收的不同波长的单色像与理想单色像在光谱维的偏离程度。色畸变为光谱维方向各视场下不同波长的单色像点位置相对于中心波长像点位置的偏离程度，通常是由于光学系统对不同波长的单色像具有不同的放大率导致。谱线弯曲和色畸变过大会严重影响高光谱仪器后期的数据应用，是衡量仪器性能和成像质量优劣的重要指标。