谈谈高光谱、多光谱、超光谱的不同

高光谱成像是20世纪80年代兴起的新一代光电检测技术，目前仍在快速发展。高光谱成像是相对于多光谱成像而言，通过高光谱成像获得的高光谱图像比通过多光谱成像获得的多光谱图像具有更丰富的图像和光谱信息。如果光谱成像技术是根据传感器的光谱分辨率进行分类的，光谱成像技术一般可以分为三类:

①多光谱成像-delta光谱分辨率_lambda/lambda=0.1数量级，这种传感器在可见光和近红外区域通常只有几个波段。

②高光谱成像-delta中的光谱分辨率_lambda/lambda=0.01数量级，这种传感器在可见光和近红外区域有数百个波段，光谱分辨率可以达到nm级。

③超光谱成像-delta中的光谱分辨率_lambda/lambda=0.001数量级传感器在可见光和近红外区域可达数千个波段。

众所周知，光谱分析是自然科学中一种重要的研究手段。光谱技术可以检测被测物体的物理结构、化学成分和其他指标。光谱评价以点测量为基础，图像测量以空间特性的变化为基础。两者各有优缺点。因此，可以说，光谱成像技术是光谱分析技术和图像分析技术发展的必然结果，是两者的完美结合。光谱成像技术不仅具有光谱分辨能力，而且具有图像分辨能力。光谱成像技术的使用不仅可以定性和定量地分析检测对象，还可以进行定位分析。

高光谱成像系统的主要工作部件是成像光谱仪。它是一种新型传感器。它是在20世纪80年代初正式开发的。开发此类仪器的目的是获取大量窄波段连续光谱图像数据，使每个像元具有几乎连续的光谱数据。它是一系列具有光波波长的光学图像，通常包含数十到数百个波段，光谱分辨率通常为1～l0nm。由于高光谱成像获得的高光谱图像可以为图像中的每个像素提供几乎连续的光谱曲线，因此它可以获得比多光谱更丰富的光谱数据信息，同时在待测物体上获取空间信息。这些数据信息可以用来生成一个复杂的模型来识别、分类和识别图像中的材料。

通过高光谱成像获得待测物体的高光谱图像包含了丰富的空间、光谱和辐射信息。这些信息不仅显示了

地球空间分布的图像特征也可以通过其中一个图像元素或图像元素组获得其辐射强度和光谱特征。图像、辐射和光谱是高光谱图像中的三个重要特征。这三个特征的有机结合是高光谱图像。

数据立方体高光谱图像数据(cube)。通常，图像像素的横坐标和纵坐标分别用Z和Y来表示。